Розроблено структурну схему ближньопольового мікрохвильового мікроскопа нового типу - з активним модуляційним зондом, яка принципово відрізняється від існуючих світових аналогів та розширює можливості в точності визначення діелектричних параметрів матеріалів. Експериментально отримані залежності перестройки резонансної частоти від магнітного поля. Підтверджено придатність феритової перестройки частоти резонатора в схемі мікроскопа з активним зондом модуляційного типу.
The block diagram of near-field microwave microscope of new type with the active modulation probe was developed, which essentially differs from existing world analogues and enhances the possibilities in accuracy of determination of dielectric parameters of materials. The dependences of resonant frequency tuning on a magnetic field are experimentally received. The suitability of ferrite of frequency tuning of the resonator in the scheme of a microscope with an active probe of modulation type is confirmed.
