Accuracy of flicker noise measurement is very important for reliability evaluation of semiconductor devices. To reduce measurement time and improve accuracy investigators must take into account the properties of low-frequency noise. To achieve this aim,it is appropriate to create an adaptive noise measurement system. Creating such measurement setup will contribute to the widespread use of noise spectroscopy in manufacturing.
Точність вимірювання флікер-шуму дуже важлива для оцінки надійності напівпровідникових приладів. Щоб зменшити час вимірювання та підвищити точність дослідники повинні враховувати властивості низькочастотного шуму. Для досягнення цієї мети доцільно створити адаптивну систему вимірювання шуму. Створення такої вимірювальної установки буде сприяти широкому використанню шумової спектроскопії у виробництві.
Точность измерения фликкер-шума очень важна для оценки надежности полупроводниковых приборов. Чтобы уменьшить время измерения и повысить точность исследователи должны учитывать свойства низкочастотного шума. Для достижения этой цели целесообразно создать адаптивную систему измерения шума. Создание такой измерительной установки будет способствовать широкому использованию шумовой спектроскопии в производстве.
